書誌情報:論理とテスト
ロンリ ト テスト
樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
東京 : 岩波書店 , 1985.5
x, 313p ; 22cm
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所蔵一覧
巻号予約人数所在請求記号登録番号資料ID状態貸出区分備考 
1 0図書館別館2階
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845850028353 利用可
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書誌詳細
刊年1985
形態x, 313p ; 22cm
シリーズ名岩波講座マイクロエレクトロニクス ; 4[VLSIの設計 ; 2]
注記参考書: p303-305
出版国日本
標題言語日本語
本文言語日本語
著者情報樹下, 行三 (1936-) (キノシタ, コウゾウ)
浅田, 邦博 (1952-) (アサダ, クニヒロ)
唐津, 修 (1947-) (カラツ, オサム)
分類NDC8:549
NDC8:549.08
NDC7:549.92
NDLC:ND351
NDLC:ND386
ISBN4000101846
件名NDLSH:集積回路
NCIDBN00059257
番号NBN : JP85047180

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